Метрология поверхностей (2009) Д. Уайтхауз

ср, 05/05/2021 - 23:09
Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы: Научное издание
Автор(ы):
Д. Уайтхауз
Издательство:
Интеллект
Год:
2009
ISBN:
978-5-91559-023-5
Формат:
DJVU
Размер:
6.80 МБ
Описание:

Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении, так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование сканирующих микроскопов).

Для технических университетов и специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков.

Категория:

Добавить комментарий